応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 平成28年度春期 午前18: 仮想記憶方式に関する記述のうち,適切なものはどれか。

応用情報技術者試験 平成28年度春期 午前
Q 1818 / 80
に関する記述のうち,適切なものはどれか。
この問の正解率:69.24%(790件)

解説

応用情報技術者試験 平成28年度春期 午前 問18「仮想記憶方式に関する記述のうち,適切なものはどれか。…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約69%です。

正解

. LRU アルゴリズムは,使用後の経過時間が最長のページを置換対象とするページ置換アルゴリズムである。

正答率 69.2%(790人中 547人が正解)

問題の解説

仮想記憶のページ置換アルゴリズムや関連用語の正誤を問う問題である。LRU(Least Recently Used)は、最後に使われてから最も長く参照されていない(使用後の経過時間が最長の)ページを置換対象とするアルゴリズムであり、この説明は正しいので正解はアである。

選択肢ごとの解説

  • LRU は最後に参照されてから最も時間が経った(使用後の経過時間が最長の)ページを追い出すアルゴリズムであり、説明として正しい。
  • ページングは固定長のページ単位で管理されるが、置換対象は「ページ」であって「セグメント」のような可変長領域ではない。インデックス方式のアドレス変換では仮想空間のページ数に対応するページテーブルを用いるのであり、記述は仮想記憶の仕組みを正しく表しておらず誤り。
  • ページフォールトが起きたときに行うのは不足ページのページイン(必要なら置換)であり、ガーベジコレクション(不要メモリ領域の回収)とは別物なので誤り。
  • 多数の小さな空き領域が散在する現象をフラグメンテーションと呼ぶのは正しいが、これは固定長のページで管理する仮想記憶のページングではなく、可変区画方式などの実記憶管理で生じる。ページングが原因とする記述は誤り。

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