応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 問24: マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として,適切なものはどれか。

←
応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前
Q 2424 / 80
マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として,適切なものはどれか。
この問の正解率:71.81%(1,316件)

解説

応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 問24「マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として,適切なものはどれか。…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約72%です。

正解

ウ. チップ内部を物理的に解析しようとすると,内部回路が破壊されるようにする。

正答率 71.8%(1,316人中 945人が正解)

問題の解説

耐タンパ性は、機器の内部を物理的、論理的に解析、改ざんしようとする攻撃への耐性である。チップを開封して内部を調べようとすると回路が壊れる仕組み、解析の足掛かりになる端子を残さない設計、メモリ配置を分かりにくくする工夫などが手法にあたる。

選択肢ごとの解説

  • アESD は静電気放電のことで、その耐性は誤動作や破壊を防ぐ信頼性の対策である。攻撃者の解析への耐性とは関係がない。
  • イ検査用パッドは、探針を当てて内部の信号を読み取る足掛かりになる。残すと耐タンパ性が下がるので、検査後は使えなくするのが対策である。
  • ウ正しい。開封や探針の接触などで物理的に解析しようとすると内部回路が壊れるようにすれば、中身の秘密が読み取られにくくなる。
  • エメモリを物理アドレスに合わせて整然と並べると、内部構造が読み取りやすくなって解析を助けてしまう。構造を分かりにくくするのが対策である。

応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 の過去問一覧に戻る・問24

応用情報技術者試験 の iOS アプリ版

アプリ版なら、よりスムーズに動作し、
スワイプで問題遷移ができます。

応用情報技術者試験 合格.dev を App Store でダウンロード