応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 問24: マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として，適切なものはどれか。

問題本文

マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として，適切なものはどれか。

選択肢

• ア.ESD（Electrostatic Discharge）に対する耐性を強化する。
• イ.チップ検査終了後に検査用パッドを残しておく。
• ウ.チップ内部を物理的に解析しようとすると，内部回路が破壊されるようにする。
• エ.内部メモリを物理アドレスに合わせて整然と配置する。

正解

ウ. チップ内部を物理的に解析しようとすると，内部回路が破壊されるようにする。

解説

耐タンパ性とは、機器の内部構造や秘密情報を外部から解析・改ざんされにくくする性質をいう。マイクロプロセッサでは、チップを開封して内部を物理的に解析しようとすると内部回路が破壊され、秘密情報を読み取れないようにする手法が耐タンパ性の向上策となる。これを述べたウが正解である。

選択肢ごとの解説

• ア.ESD（静電気放電）への耐性強化は静電気破壊を防ぐ信頼性・保護対策であり、解析や改ざんを防ぐ耐タンパ性とは目的が異なるため誤りである。
• イ.検査用パッドを残すと、そこから内部信号を観測されて解析の手がかりを与えてしまい、むしろ耐タンパ性を下げるため誤りである。
• ウ.物理的に解析しようとすると内部回路が破壊されるようにする手法は、解析による情報窃取を防ぎ耐タンパ性を高めるため正解である。
• エ.内部メモリを物理アドレスに合わせて整然と配置すると配置が推測しやすくなり解析の手がかりを与えるため、耐タンパ性向上にはつながらず誤りである。