応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和7年度春期 午前 問54: あるシステム開発プロジェクトのシステムテストにおけるテスト密度及び欠陥密度の値は，図に示した領域 ①〜領域 ④のうち，領域 ④の範囲内であった。品質管理基準に照

正解

ウ. システムの欠陥を十分に検出できていない懸念があるので，テストの観点に漏れがないかなど，テストケースの妥当性を確認する。

正答率 41.8%（407人中 170人が正解）

問題の解説

基準値の 80% は、テスト密度で 件/KLOC、欠陥密度で 件/KLOC、120% は 件/KLOC である。領域④は、テスト密度が 16 以上で量は足りているが、欠陥密度が 0.08 未満で基準を下回る。量を満たしたのに欠陥が少ないのは、観点漏れで欠陥を見逃している疑いがあるので、テストケースの妥当性を確認する。

選択肢ごとの解説

• ア欠陥密度が基準を満たすのは 0.08 以上 0.12 未満の領域③であり、領域④は 0.08 未満で基準を下回る。前提が誤りである。
• イ欠陥が多い（0.12 以上）のは領域②であり、領域④は逆に欠陥が少ない。原因分析や品質改善を急ぐ状況ではない。
• ウ正しい。テスト密度は足りているのに欠陥密度が 0.08 未満と少ないので、観点漏れなどで欠陥を見逃している懸念があり、テストケースの妥当性を確認する。
• エテスト密度が不足する（16 未満）のは領域①であり、領域④は 16 以上で基準を満たしている。テストケースの追加は適切でない。