応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和7年度春期 午前 問54: あるシステム開発プロジェクトのシステムテストにおけるテスト密度及び欠陥密度の値は，図に示した領域 ①〜領域 ④のうち，領域 ④の範囲内であった。品質管理基準に照

正解

ウ. システムの欠陥を十分に検出できていない懸念があるので，テストの観点に漏れがないかなど，テストケースの妥当性を確認する。

正答率 41.6%（404人中 168人が正解）

問題の解説

テスト密度と欠陥密度の両方を基準と照らして品質状況を判断する問題。基準値はテスト密度 20，欠陥密度 0.1 で，下限は基準の 80％(テスト密度 16，欠陥密度 0.08)である。領域④はテスト密度が 16 以上(基準を満たす)だが欠陥密度が 0.08 未満と下限を下回る区画にあたり，十分にテストしているのに欠陥がほとんど出ていないことを意味する。これはテストの観点に漏れがあって欠陥を検出しきれていない懸念を示すため，テストケースの妥当性を確認すべきで正解はウ。

選択肢ごとの解説

• ア欠陥密度は下限 0.08 を下回っており「基準を満たしている」とは言えないので，前提が誤り。
• イ領域④は欠陥密度が低い側であり「欠陥が多い」状況ではないので誤り。欠陥が上限超過の領域②に対する活動の説明にあたる。
• ウ正しい。テスト密度は十分なのに欠陥密度が下限未満であり，テストの観点漏れで欠陥を検出できていない懸念があるため，テストケースの妥当性を確認するのが適切。
• エ領域④はテスト密度が 16 以上で基準(80％)を満たしているため，テスト密度不足を前提とするのは誤り。