応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和7年度春期 午前 問54: あるシステム開発プロジェクトのシステムテストにおけるテスト密度及び欠陥密度の値は，図に示した領域 ①〜領域 ④のうち，領域 ④の範囲内であった。品質管理基準に照

問題本文

あるシステム開発プロジェクトのシステムテストにおけるテスト密度及び欠陥密度の値は，図に示した領域 ①〜領域 ④のうち，領域 ④の範囲内であった。品質管理基準に照らして評価すると，行うべき活動として最も適切なものはどれか。ここで，このプロジェクトの品質管理基準では，定量評価の基準として，表に従ってテスト密度及び欠陥密度の基準値を設定した上で，テスト密度は基準値の 80％以上であること，かつ，欠陥密度は基準値の 80％以上 120％未満であることと定めている。 品質指標と基準値

選択肢

• ア.欠陥密度は基準を満たしているが，システムの品質に問題がないか，欠陥の妥当性を確認する。
• イ.システムの欠陥が多いので，検出した欠陥の原因を分析した上で，システムの品質改善に取り組む。
• ウ.システムの欠陥を十分に検出できていない懸念があるので，テストの観点に漏れがないかなど，テストケースの妥当性を確認する。
• エ.テスト密度が不足しているので，システムの規模に見合うテストケース数以上となるように，テストケースを追加する。

正解

ウ. システムの欠陥を十分に検出できていない懸念があるので，テストの観点に漏れがないかなど，テストケースの妥当性を確認する。

解説

テスト密度と欠陥密度の両方を基準と照らして品質状況を判断する問題。基準値はテスト密度 20，欠陥密度 0.1 で，下限は基準の 80％(テスト密度 16，欠陥密度 0.08)である。領域④はテスト密度が 16 以上(基準を満たす)だが欠陥密度が 0.08 未満と下限を下回る区画にあたり，十分にテストしているのに欠陥がほとんど出ていないことを意味する。これはテストの観点に漏れがあって欠陥を検出しきれていない懸念を示すため，テストケースの妥当性を確認すべきで正解はウ。

選択肢ごとの解説

• ア.欠陥密度は下限 0.08 を下回っており「基準を満たしている」とは言えないので，前提が誤り。
• イ.領域④は欠陥密度が低い側であり「欠陥が多い」状況ではないので誤り。欠陥が上限超過の領域②に対する活動の説明にあたる。
• ウ.正しい。テスト密度は十分なのに欠陥密度が下限未満であり，テストの観点漏れで欠陥を検出できていない懸念があるため，テストケースの妥当性を確認するのが適切。
• エ.領域④はテスト密度が 16 以上で基準(80％)を満たしているため，テスト密度不足を前提とするのは誤り。