応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前 問75「横軸にロットの不良率,縦軸にロットの合格率をとり,抜取検査でのロットの品質とその…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「ストラテジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約73%です。
ア. OC 曲線
正答率 72.7%(659人中 479人が正解)
抜取検査における品質と合格率の関係を表す曲線を問う問題である。OC曲線(検査特性曲線、Operating Characteristic curve)は、横軸にロットの不良率、縦軸にそのロットが合格する確率(合格率)をとり、抜取検査でロットの品質と合格率の関係を示したものである。問題文の記述はOC曲線の定義そのものであり、アが正解となる。他の選択肢は故障率の時間変化や確率分布を表すものである。
応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前 の過去問一覧に戻る・問75