応用情報技術者試験 令和2年度 午前 問16「記憶領域の動的な割当て及び解放を繰り返すことによって,どこからも利用できない記憶…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約46%です。
ア. ガーベジコレクション
正答率 46.0%(211人中 97人が正解)
動的な割当てと解放を繰り返すと、どこからも参照されなくなったのに解放されていない記憶領域 (ごみ) が生じることがある。ガーベジコレクションは、そのような領域を自動的に検出して回収し、再び利用できるようにする機能である。
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