応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和4年度春期 午前 問23: マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として，適切なものはどれか。

正解

ウ. チップ内部を物理的に解析しようとすると，内部回路が破壊されるようにする。

正答率 50.3%（461人中 232人が正解）

問題の解説

耐タンパ性とは，機器内部の構造や秘密情報を不正に解析・取得されにくくする性質である。マイクロプロセッサで耐タンパ性を高めるには，物理的に内部を解析しようとすると回路が壊れて情報を読み取れなくする，といった解析妨害策が有効であり，正解はウである。

選択肢ごとの解説

• アESD(静電気放電)耐性の強化は故障や破損を防ぐ信頼性の対策であり，不正解析を防ぐ耐タンパ性とは目的が異なる。
• イ検査用パッドを残すと，そこを足掛かりに内部を解析・読み出される恐れがあり，かえって耐タンパ性を下げてしまう。
• ウ物理的に内部を解析しようとすると回路が破壊されるようにすれば，秘密情報の読み取りを阻止できる。耐タンパ性向上の手法として正しい。
• エ内部メモリの物理アドレスを整然と配置すると解析者に構造を推測されやすくなり，耐タンパ性の向上にはつながらない。