応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和4年度春期 午前 問23: マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として，適切なものはどれか。

正解

ウ. チップ内部を物理的に解析しようとすると，内部回路が破壊されるようにする。

正答率 50.5%（463人中 234人が正解）

問題の解説

耐タンパ性は、機器の内部を不正に解析したり改ざんしたりしようとする攻撃への耐性である。チップに物理的な解析を試みると内部回路が壊れて情報を読み取れなくなるようにすれば、鍵などの秘密情報を守れる。静電気への耐性強化や、解析の足がかりになる要素を残すことは、耐タンパ性の向上にならない。

選択肢ごとの解説

• アESDへの耐性強化は静電気による故障を防ぐ対策で、不正な解析への耐性（耐タンパ性）とは別の観点である。
• イ検査用パッドを残すと、そこから内部の信号を読み取る足がかりを攻撃者に与えてしまい、耐タンパ性を下げる。
• ウ正しい。解析しようとすると回路が壊れるようにして、内部の情報の読み取りを防ぐ。
• エ物理アドレスを整然と並べると、内部の構造が推測しやすくなる。耐タンパ性を高めるには、むしろ配置を分かりにくくする。