応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前 問22「マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として,適切なものはどれか。…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約52%です。
ウ. チップ内部を物理的に解析しようとすると,内部回路が破壊されるようにする。
正答率 52.2%(418人中 218人が正解)
耐タンパ性とは、内部の情報や処理を、物理的な解析や改ざんなどの不正な手段から守る能力である。マイクロプロセッサでは、パッケージを剥がしたり探針を当てたりして内部を調べようとすると、回路やデータが壊れて読み取れなくなるようにする、といった手法が耐タンパ性の向上に有効である。
応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前 の過去問一覧に戻る・問22