応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前 問22: マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として，適切なものはどれか。

正解

ウ. チップ内部を物理的に解析しようとすると，内部回路が破壊されるようにする。

正答率 52.2%（418人中 218人が正解）

問題の解説

耐タンパ性とは、内部の情報や仕組みを外部から不正に解析・改ざんされにくくする性質のこと（tamper＝改ざん・こじ開け）。チップを物理的に解析しようとすると内部回路が壊れて情報を読み取れなくする仕組み（ウ）は、解析を防ぐ典型的な手法であり正解。

選択肢ごとの解説

• アESD（静電気放電）への耐性強化は、静電気による故障防止のための信頼性対策であり、不正解析を防ぐ耐タンパ性とは目的が異なる。誤り。
• イ検査用パッドを残すと、そこから内部信号を観測・解析される手がかりを与えてしまい、むしろ耐タンパ性を下げる。誤り。
• ウ物理的解析を試みると内部回路が破壊されるようにする、という解析を防ぐ仕組みは耐タンパ性向上の代表例。正解。
• エ物理アドレスを整然と配置すると、解析者が内部構造を推測しやすくなり、かえって解析されやすい。耐タンパ性向上にはならず誤り。