応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前 問22: マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として,適切なものはどれか。

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応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前
Q 2222 / 80
マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として,適切なものはどれか。
この問の正解率:52.15%(418件)

解説

応用情報技術者試験 平成30年度秋期 午前 問22「マイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として,適切なものはどれか。…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約52%です。

正解

ウ. チップ内部を物理的に解析しようとすると,内部回路が破壊されるようにする。

正答率 52.2%(418人中 218人が正解)

問題の解説

耐タンパ性とは、内部の情報や処理を、物理的な解析や改ざんなどの不正な手段から守る能力である。マイクロプロセッサでは、パッケージを剥がしたり探針を当てたりして内部を調べようとすると、回路やデータが壊れて読み取れなくなるようにする、といった手法が耐タンパ性の向上に有効である。

選択肢ごとの解説

  • アESD(静電気放電)への耐性強化は、静電気による故障を防ぐ信頼性の対策であり、不正な解析への対策ではない。
  • イ検査用パッドを残すと、そこから内部の信号を読み取られるおそれがあり、耐タンパ性を下げる。検査後は使えなくする必要がある。
  • ウ正しい。内部を物理的に解析しようとすると回路が壊れるので、内部の情報を不正に読み取られることを防げる。
  • エ物理アドレスを整然と配置すると、内部メモリの構造が推測しやすくなり、解析を助けてしまう。

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