応用情報技術者試験 応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 問17: ページング方式の仮想記憶において,ページ置換えの発生頻度が高くなり,システムの処理能力が急激に低下することがある。このような現象を何と呼ぶか。

←
応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前
Q 1717 / 80
の仮想記憶において,ページ置換えの発生頻度が高くなり,システムの処理能力が急激に低下することがある。このような現象を何と呼ぶか。
この問の正解率:48.63%(732件)

解説

応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 問17「ページング方式の仮想記憶において,ページ置換えの発生頻度が高くなり,システムの処…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約49%です。

正解

ア. スラッシング

正答率 48.6%(732人中 356人が正解)

問題の解説

ページング方式の仮想記憶で、主記憶に載るページが足りなくなると、ページフォールトとページ置換えが頻発し、CPU がページの入出力待ちに追われて本来の処理が進まなくなる。この現象をスラッシングという。多重度を下げる、主記憶を増やすなどで抑える。

選択肢ごとの解説

  • ア正しい。ページ置換えが頻発し、ページの入出力ばかりが行われて処理能力が急激に低下する現象をスラッシングという。
  • イスワップアウトは、プロセスやページを主記憶から補助記憶へ退避する動作である。性能が急に落ちる現象の名前ではない。
  • ウフラグメンテーションは、記憶領域が細かく分断され、空きがあっても大きな領域を確保できない断片化のことである。
  • エページフォールトは、参照したページが主記憶にないときに起きる割込みである。頻発がスラッシングの原因になるが、現象そのものの名前ではない。

応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 の過去問一覧に戻る・問17

応用情報技術者試験 の iOS アプリ版

アプリ版なら、よりスムーズに動作し、
スワイプで問題遷移ができます。

応用情報技術者試験 合格.dev を App Store でダウンロード