応用情報技術者試験 令和6年度秋期 午前 問17「ページング方式の仮想記憶において,ページ置換えの発生頻度が高くなり,システムの処…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約49%です。
ア. スラッシング
正答率 48.7%(727人中 354人が正解)
ページング方式の仮想記憶では、主記憶が不足するとページの追い出し(ページアウト)と読み込み(ページイン)が頻発する。この置換えが過度に多発し、本来の処理よりページ入替えに時間を取られてシステムの処理能力(スループット)が急激に低下する現象をスラッシングという。よって正解はアである。
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