応用情報技術者試験 令和3年度秋期 午前 問16「ページング方式の仮想記憶において,ページ置換えの発生頻度が高くなり,システムの処…」の正解と解説です。応用情報技術者試験の「テクノロジ系」分野の過去問で、これまでの受験者の正答率は約51%です。
ア. スラッシング
正答率 51.1%(348人中 178人が正解)
仮想記憶でページの置換え(ページイン・ページアウト)が多発し、CPUが処理よりもページ入れ替えに時間を費やしてシステムの処理能力(スループット)が急激に低下する現象を問う問題である。これをスラッシング(thrashing)と呼び、正解はア。
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